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Spectroscopie de vibration infrarouge du silicium amorphe hydrogéné évaporé
R. N. KRE, Laboratoire de Physique Fondamentale et Appliquée, Université d’Abobo Adjamé, 02 BP 801 Abidjan, Côte d’Ivoire
M. L. MOUSSE, Laboratoire de Physique Fondamentale et Appliquée, Université d’Abobo Adjamé, 02 BP 801 Abidjan, Côte d’Ivoire
P. Y. TCHETCHE, Laboratoire de Physique Fondamentale et Appliquée, Université d’Abobo Adjamé, 02 BP 801 Abidjan, Côte d’Ivoire
B. AKA, Laboratoire de Physique Fondamentale et Appliquée, Université d’Abobo Adjamé, 02 BP 801 Abidjan, Côte d’Ivoire
P. A. THOMAS, Laboratoire de Physique des Solides, Université Pierre et Marie Curie, Paris, France
Date de publication : 1 janvier 2011
Résumé
Ce travail porte sur l’étude des configurations des liaisons Si-H des couches minces du silicium amorphe hydrogéné évaporé (a-Si:H) préparées dans un bâti ultra-vide (UHV). L’hydrogène atomique est obtenu à l’aide d’un plasma dans un tube à décharge dirigé vers le porte-substrat. Les fréquences de vibrations et la nature des liaisons Si-H ont été analysées à partir des mesures de spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier.
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Pour citer cet article
R. N. KRE, M. L. MOUSSE, P. Y. TCHETCHE, B. AKA et P. A. THOMAS. «Spectroscopie de vibration infrarouge du silicium amorphe hydrogéné évaporé».
Afrique Science,
Vol.7, N°1 (2011),
1 janvier 2011,
http://www.afriquescience.info/document.php?id=1908. ISSN 1813-548X.